光伏产品检测
检测机构：江苏赛夫特半导体材料检测技术有限公司
|
检测对象 |
检测内容 |
检测范围 |
检测仪器 |
|
块状硅
|
基体金属杂质(铁、铬、镍、铜、锌、钠) | 检测限：0.1~0.5ppbw |
ICP-MS |
| 块状硅表面金属杂质(钾、钠、钙、镁、铝、铬、铁、镍、铜、锌等) | 检测限：10~50pptw |
ICP-MS |
|
| 硅片 | 硼、磷、砷、钾、钠、钙、镁、铝、铬、铁、镍、铜、锌等多种元素 | 检测限：1~10E8atoms/cm2 |
ICP-MS |
| 氮化硅 | 可释放金属杂质(钾、钠、钙、镁、铝、铬、铁、镍、铜、锌等) | 检测浓度范围：ppb~ppm |
ICP-MS |
|
石英 石/砂 |
金属杂质 |
检测浓度范围：ppb~ppm |
ICP-OES |
